Tytuł
Predictive Reliability and Fault Management in Exascale Systems: State of the Art and Perspectives
Autorzy
[ 1 ] Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe, Polska Akademia Nauk | [ P ] pracownik
Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)
Rok publikacji
2020
Opublikowano w
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
Streszczenie
EN Performance and power constraints come together with Complementary Metal Oxide Semiconductor technology scaling in future Exascale systems. Technology scaling makes each individual transistor more prone to faults and, due to the exponential increase in the number of devices per chip, to higher system fault rates. Consequently, High-performance Computing (HPC) systems need to integrate prediction, detection, and recovery mechanisms to cope with faults efficiently. This article reviews fault detection, fault prediction, and recovery techniques in HPC systems, from electronics to system level. We analyze their strengths and limitations. Finally, we identify the promising paths to meet the reliability levels of Exascale systems
Strony (od-do)
1 - 32
DOI
Punktacja Ministerstwa / czasopismo
200
Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021
200
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu SINUS
opracowanemu przez Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się, aby dodać do SIN: